X-ray fluorescence (XRF) adalah emisi sinar-X karakteristik "sekunder" (atau fluorescent) dari bahan yang telah tereksitasi dengan membombardir dengan sinar-X energi tinggi atau sinar gamma. Fenomena ini banyak digunakan untuk analisis unsur dan analisis kimia, khususnya dalam penyelidikan logam, kaca, keramik dan bahan bangunan, dan untuk penelitian geokimia, ilmu forensik, arkeologi dan benda-benda seni seperti lukisan dan mural. [Kaca][Keramik][Arkeologi] |